经过生产验证的,复杂的半导体IP核

半导体电路设计IP及配套交付件


T2M Verification IPs USB 2.0 VIP

USB 2.0 VIP

概述和功能介绍

这个USB 1.0/1.1/2.0验证IP能够为SOC或ASIC的USB 1.0/1.1/2.0组件提供智能验证。这个验证IP与旧版USB标准1.0、1.1和2.0向后兼容性支持。USB 1.0、1.1和2.0验证IP能够以不同的速度传输数据,包括高速(480 Mbit/s)、全速(12 Mbit/s)和低速(1.5 Mbit/s),并保持逻辑一致性。这个验证IP能够以引导或高度随机的方式执行各种可能的协议测试,以增加成功验证DUT的范围。通过这种方式,可以检测到违反整个协议的情况。USB 1.0/1.1/2.0验证IP的验证环境包括SystemVerilog、VMM、RVM、AVM、OVM、UVM、Verilog、SystemC、VERA、Specman E和非标准验证环境。


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功能描述
  • 兼容 USB 1.0、1.1 和 USB 2.0 规范

  • 支持标准 USB 2.0 接口、UTMI、UTMI+、ULPI 和 HSIC 接口。

  •  支持标准 DP/DM 总线接口。

  • 支持链路电源管理(LPM)。

  • 支持协议属性的受限随机化。

  •  支持所有 USB2.0 传输类型(控制、异步、中断、批量)。

  • 支持事务级(设置、输入、输出、Ping)和数据包级(令牌、数据、握手、SOF)传输/接收。

  •  支持 SRP 和 HNP 合规性检查。

  •  支持 SOF 生成。

  •  可编程数据包间和端到端延迟。

  •  能够生成随机数据包/交易,并以定向或随机方式响应数据包/交易。

  •  OTG 设备通信组合

    • OTG 设备到嵌入式主机

    • 目标主机至仅外设 B 设备

    • OTG 设备到 OTG 设备

  • 支持的设备,双 A、B 设备,嵌入式主机 SRP 仅 B 设备

  •  支持的协议 SRP、HNP、HNP 轮询

  • 暂停/恢复/远程唤醒

  • ADP

  • 支持的速度 HS 和 FS

  • 支持的功能选择器

    • b_hnp_enable

    • a_hnp_support

    • a_alt_hnp_support

  • 支持所有超时条件

    • a_wait_vrise_tmout、

    • a_wait_vfall_tmout

    • a_wait_bcon_tmout, a_aidl_bdis_tmout

    • a_bidl_adis_tmout

  •  支持所有类型的错误注入和检测。错误包括

    • oCorrupt Sync、PID、CRC-5、CRC-16、Corrupt Endpoint Address Byte

    • 错误的设置有效载荷大小

    • 错误的设置阶段数据有效载荷

    • 损坏的EOP字节,Bit填充错误

交付件

  • 包含所有 USB 1.0/1.1/2.0 测试用例的完整回归套件。

  • 示例演示如何连接各种组件以及 BFM 和监控器的使用。

  • 验证环境中使用的所有类、任务和函数的详细文档。

  •  文档还包括用户指南和发布说明。